세계 최고의 테스트, 측정, 모니터링 장비 공급업체인 텍트로닉스는 키슬리 S530 파라미터 테스트 시스템의 측정 속도를 최대 25%까지 단축할 수 있는 주요 시스템 소프트웨어 업데이트(KTE 버전 5.6)를 출시 한다고 발표했다.

이는 반도체 생산 및 연구 개발 부서에 있어 웨이퍼 수준의 테스트 처리 성능 향상을 의미하며 S530의 COO(소유 비용)를 직접적으로 개선하는 효과가 있다.

생산 비용 절감과 수율 향상은 진화하는 재료 및 소자 구조에 대응해야 하는 반도체 생산업체의 핵심 목표이다. 인라인 파라미터 테스트 처리 성능과 전반적인 COO는 반도체 웨이퍼에서 필요한 모든 측정을 완료하는 데 소요되는 시간과 직접적인 관계가 있다. 이번에 새로 발표된 인기 높은 S530용 KTE(키슬리 테스트 환경) 소프트웨어는 테스트 성능의 획기적인 향상을 통해 이러한 요구에 대응한다.

텍트로닉스의 키슬리 제품군 총책임자인 마이크 플래어티(Mike Flaherty)는 “최신 IC 소자 생산 및 테스트와 관련하여 가장 중요한 것은 소유 비용을 절감하는 일”이라며 “텍트로닉스는 이번 최신 릴리스를 통해 인라인 웨이퍼 테스트 처리 성능을 높일 수 있도록 최고의 COO와 측정 시간 단축을 제공하는 파라미터 테스트 시스템을 실현했다. 이를 통해 고객들은 빠르게 변화하는 업계에서 경영수지를 개선하고 경쟁력을 유지할 수 있을 것”이라고 말했다.

S530의 소프트웨어 업그레이드에는 저전류 측정과 관련된 설정 시간을 줄여주는 시스템 SMU의 기능 향상도 포함되어 있다. 더 빠른 전류 측정은 전반적인 시스템 측정 속도 향상으로 이어진다. 또한 새로운 시스템 측정 설정과 능률화된 소프트웨어 실행으로 시스템 속도가 한층 더 향상된다. 이 업그레이드에는 더 빠른 저전압 및 저저항 측정이 가능하도록 텍트로닉스의 최신 키슬리 DMM(디지털 멀티미터)도 통합되었다.

S530 시스템은 일반적으로 광범위한 제품 조합이 필요하거나 폭넓은 적용 유연성 및 빠른 테스트 계획 개발이 필수적인 경우에 생산 파라미터 테스트 환경에서 사용하도록 최적화되었다. 키슬리는 표준 CMOS, 바이폴라, MEMS, 기타 비교적 저전압의 반도체 공정에 일반적으로 사용되는 200V 시스템과 더불어, GaN, SiC, Si LDMOS 전력 소자에 필요한 까다로운 파손 및 누설 테스트에 최적화된 특별한 1kV 버전도 제공한다.